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晶片檢測設備
晶片檢測設備
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一種自動晶片檢測方法,首先提供第一組數據與第二組數據.接著,提供一自動程序,是提供一視介面,使用者只需修改其中簡單的幾個指令,即可方便檢測各種不同的元件特性.執行此自動程序,載入第一組數據,并進行下列選擇步驟:選擇一檢測模件,其以電性連接與控制晶片上的多個測試鍵;再選擇欲檢測的元件特性,此時自動程序載入第二組數據.最后,自動程序將上述選擇結果載入一工作站,然后進行并完成元件特性的檢測動作.

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2021-08-03
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