可控硅觸發二極管（通常簡稱為可控硅或晶閘管）的好壞可以通過多種方法進行測試。以下是一些常用的測試方法：

一、使用萬用表測試

1. 測試觸發電壓和觸發電流

• 將萬用表設置為電壓測量模式，連接可控硅的陽極（A）和陰極（K），同時用另一根表筆觸碰控制極（G）。

• 逐漸增加陽極與陰極之間的電壓，觀察萬用表上的讀數。

• 當可控硅開始導通時，記錄下此時的電壓值，即為觸發電壓。

• 同時，可以測量觸發電流，即在觸發電壓下流過控制極的電流。

• 如果觸發電壓和觸發電流在可控硅的規格范圍內，則表明可控硅正常。

2. 測試正向導通電壓和反向阻斷電壓

• 將萬用表設置為電壓測量模式，連接可控硅的陽極和陰極。

• 在陽極上施加正向電壓，觀察可控硅是否導通。如果導通，記錄下此時的電壓值，即為正向導通電壓。

• 然后，將電壓反向施加在陽極和陰極之間，觀察可控硅是否阻斷。如果阻斷，記錄下此時的電壓值，即為反向阻斷電壓。

• 如果正向導通電壓和反向阻斷電壓都在可控硅的規格范圍內，則表明可控硅正常。

二、使用示波器測試

示波器可以用來觀察可控硅在觸發過程中的電壓和電流波形。通過波形分析，可以判斷可控硅的觸發性能和穩定性。

三、使用簡單觸發電路測試

1. 搭建觸發電路

• 使用一個電阻、一個電容和一個開關搭建一個簡單的觸發電路。

• 將觸發電路的輸出連接到可控硅的控制極上。

2. 測試可控硅的觸發和關斷

• 打開開關，觀察可控硅是否導通。

• 關閉開關，觀察可控硅是否關斷。

• 如果可控硅在開關打開時導通，在開關關閉時關斷，則表明可控硅正常。

四、注意事項

1. 在測試過程中，要確保所使用的測試儀器和設備的精度和準確性。

2. 測試時要遵循安全操作規程，避免觸電或短路等危險情況的發生。

3. 如果測試結果與可控硅的規格不符，或者可控硅在測試過程中出現異常情況（如過熱、損壞等），則應立即停止測試并更換新的可控硅。

綜上所述，通過萬用表測試、示波器測試和簡單觸發電路測試等方法，可以有效地判斷可控硅觸發二極管的好壞。在實際應用中，應根據具體需求和條件選擇合適的測試方法。